Banca de QUALIFICAÇÃO: GIRLENE GONÇALVES DO NASCIMENTO

Uma banca de QUALIFICAÇÃO de DOUTORADO foi cadastrada pelo programa.
DISCENTE : GIRLENE GONÇALVES DO NASCIMENTO
DATA : 26/04/2019
HORA: 09:00
LOCAL: Sala de aulas do PPGCEM
TÍTULO:

ESTUDO DA ATIVIDADE FOTOCATALÍTICA E FOTOLUMINESCENTE DOS FILMES FINOS MULTICAMADAS DE ÓXIDO DE COBRE (CuO) E ÓXIDO DE ZINCO (ZnO) DEPOSITADOS EM SUBSTRATO DE SILÍCIO


PALAVRAS-CHAVES:

óxido de zinco, óxido de cobre, precursores poliméricos, fotocatálise, fotoluminescência.


PÁGINAS: 96
RESUMO:

Estudos recentes investigam uma nova classe de materiais inorgânicos que surge como uma opção promissora em aplicações de alto desempenho no campo da fotoluminescência e da fotocatálise. O desenvolvimento de materiais tem aberto novas perspectivas para a produção de dispositivos com propriedades fotoluminescentes e fotocatalíticas altamente eficientes, os quais têm apresentado especial relevância no combate à poluição de efluentes decorrentes da atividade industrial. Dentre os materiais promissores de interesse tecnológico se destacam os semicondutores ZnO e CuO, os quais apresentam bom desempenho em propriedades ópticas e fotocatalíticas. Neste trabalho, resinas poliméricas de óxido de zinco e óxido de cobre foram sintetizadas pelo método dos precursores poliméricos, sendo depositadas em multicamadas, por meio da técnica de spin coating, em substrato de silício. As resinas, que tiveram suas viscosidades ajustadas para 20 cPs, foram depositadas em 6 camadas alternadas ZnO/CuO; CuO/ZnO; CuO/CuO e ZnO/ZnO e tratadas termicamente a 400ºC e 500ºC. As amostras foram caracterizadas por difração de raios X (DRX), refinamento Rietveld (pó), espectroscopia de absorção óptica UV-vis, microscopia de força atômica (AFM), microscopia eletrônica de varredura com emissão de campo (MEV-FEG) e espectroscopia de raios X por dispersão de energia (EDS). Os resultados da análise de raios X das amostras de filmes confirmam que não houve interação química entre os óxidos, ou seja, as multicamadas foram formadas. O refinamento Rietveld das amostras na forma de pó confirma a presença das fases de ZnO (hexagonal) e CuO (monoclínica), sem fases secundárias para ambas as amostras. Os espectros de absorção óptica por UV-vis caracterizaram os filmes finos como semicondutores, indicando “gap óptico” entre 1,53 eV a 3,35 eV. A microscopia eletrônica de varredura com emissão de campo (MEV-FEG) mostra que os filmes possuem boa aderência ao substrato de silício.


MEMBROS DA BANCA:
Interna - 1802888 - FABIANA VILLELA DA MOTTA
Externo à Instituição - JUAN ALBERTO CHAVEZ RUIZ - ISI-ER
Presidente - 1883170 - MAURICIO ROBERTO BOMIO DELMONTE
Externo à Instituição - MAXYMME MENDES DE MELO - IFRN
Notícia cadastrada em: 15/04/2019 14:40
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