Banca de DEFESA: VALMAR DA SILVA SEVERIANO SOBRINHO



Uma banca de DEFESA DE MESTRADO foi cadastrada pelo programa.

DISCENTE: VALMAR DA SILVA SEVERIANO SOBRINHO
DATA: 12/05/2016
HORA: 09:00
LOCAL: Auditório do Centro de Tecnologia - CT/UFRN
TÍTULO:

AVALIAÇÃO DE PROPRIEDADES ÓPTICAS E ESPESSURA DE FILMES FINOS DE TIO2 A PARTIR DO ESPECTRO DE TRANSMITÂNCIA


RESUMO:

Filmes finos de TiO2 podem ser a resposta para grandes questões atuais sobre as melhores maneiras de obter energia, economizar energia e reduzir a poluição. Tais filmes têm sido aplicados com sucesso para produção de células solares; como camada em janelas inteligentes, janelas fotocrômicas e eletrocrômicas; além de possuírem propriedades fotocatalítica interessantes. Este trabalho explora a importância tecnológica e científica desse material realizando investigações a respeito dos filmes de TiO2, sua forma de deposição, técnicas de análise, detalhando formas atuais de análise óptica, buscando, de maneira inovadora, comparar tais técnicas, validar seu uso, e comparar seus resultados na busca de meios econômicos da realização de investigações a respeito de espessura, estrutura e avaliação de propriedades fotocatalíticas do material produzido. Nesse trabalho foram utilizadas, para criação de filmes finos, deposição física pelo método de magnetron sputterin. Para análise óptica e cálculo de espessura e Band Gap dos filmes será apresentado o Método do Envelope que foi originalmente proposto por Manifacier (Manifacier, Gasiot e Fillard, 1976) sendo que mais tarde Swanepoel (1983) conseguiu melhorar ainda mais a precisão desse método para encontrar propriedades ópticas dos filmes finos e sua espessura. Também será apresentado, a aplicação de equações propostas nos trabalhos de Lindgren (Lindgren et al., 2003) e a Lei de Beer-Lambert para cálculo do Coeficiente de Absorção dos filmes, outro dado importante para mais tarde determinar o gap dos mesmos, que será encontrado pelo Método Tauc. Para filmes muito finos, com poucas ou nenhuma franja de interferência se faz necessário o estudo de algum Método Computacional para determinação dos seus parâmetros ópticos e espessura. Para tanto utilizou-se o Método PUMA, um Método Computacional desenvolvido por pesquisadores da UNICAMP/USP. Os filmes depositados foram analisados por DRX, EDS, além de serem submetidos a análise óptica, MEV transversal buscando validar os métodos ópticos em termos das espessuras recuperadas, além de encontrado seus Band Gap e seus valores comparados com o esperado pela literatura confrontando tais resultados com a cristalinidade obtida para os filmes.


PALAVRAS-CHAVE:

Filmes finos, propriedades ópticas, band gap, TiO2, Espessura, Método do Envelope, PUMA.


PÁGINAS: 89
GRANDE ÁREA: Engenharias
ÁREA: Engenharia Mecânica

MEMBROS DA BANCA:
Externo à Instituição - EDALMY OLIVEIRA DE ALMEIDA - UERN
Externo ao Programa - 1883170 - MAURÍCIO ROBERTO BOMIO DELMONTE
Presidente - 1350249 - RUBENS MARIBONDO DO NASCIMENTO
Externo ao Programa - 2550377 - THERCIO HENRIQUE DE CARVALHO COSTA
Notícia cadastrada em: 10/05/2016 09:36
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