Ciclo de seminários do Programa de Pós-Graduação em Matemática Aplicada e Estatística da UFRN - 2017

Ciclo de seminários do Programa de Pós-Graduação em Matemática Aplicada e
Estatística da UFRN - 2017

Título: Diferentes métodos de redução de viés dos estimadores de máxima verossimilhança na classe de distribuições log-simétricas.

Palestrante: Prof. Dr. Francisco M.C. Medeiros - UFRN

Quando: 25 de agosto de 2017, sexta-feira, às 14:00h.

Onde: Sala de Seminários da Estatística – CCET- UFRN

Resumo.  Neste trabalho obtivemos expressões para o viés de ordem O(n^(-1))  dos estimadores de máxima verossimilhança na classe de distribuições log-simétricas. Com base nessas expressões, propomos estimadores corrigidos pelo viés. Com esse mesmo objetivo, foram considerados estimadores modificados com base no método proposto por Firth (1993). Além disso, dos resultados de Pagui et al. (2016), obtivemos estimadores modificados com a finalidade de reduzir o viés mediano. Estudos de simulação de Monte Carlo foram realizados para comparar o desempenho dos três estimadores propostos.