Referências: |
1. J. I. Goldstein, D. E. Newbury, P. Echlin, D. C. Joy, C. Fiori, E. Lifshin; Scanning electron microscopy and X ray microanalysis, , Pnenum Press, Nova York, EUA, 2018.
2. A. M. Maliska, Microscopia eletrônica de varredura e microanálise, Apostila de aulas, Universidade Federal de Santa Catarina, Florianópolis, Brasil. (disponível online:
http://www.materiais.ufsc.br/lcm), 2004.
3. ASM Handbook Volume 10: Materials Characterization, 9a. edição, Ed. R. E. Whan, ASM International, Materials Park, EUA, 2001.
4. B. D. Cullity, Elements of X-ray diffraction, Addison-Wesley, USA, 2014.
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