SIGAA - Sistema Integrado de Gestão de Atividades Acadêmicas

Resumo do Componente Curricular

Dados Gerais do Componente Curricular
Tipo do Componente Curricular:	MÓDULO
Unidade Responsável:	PROGRAMA DE PÓS-GRADUAÇÃO EM CIÊNCIA E ENGENHARIA DE MATERIAIS (12.10)
Código:	CEM0014
Nome:	TÉCNICAS AVANÇADAS DE CARACTERIZAÇÃO MICROESTRUTURAL E DE TEXTURA CRISTALOGRÁFICA DOS MATERIAIS
Carga Horária Teórica:	30 h.
Carga Horária Prática:	0 h.
Carga Horária de Ead:	0 h.
Carga Horária Total:	30 h.
Pré-Requisitos:
Co-Requisitos:
Equivalências:
Excluir da Avaliação Institucional:	Não
Matriculável On-Line:	Sim
Método de Avaliação:	CONCEITO
Horário Flexível da Turma:	Não
Horário Flexível do Docente:	Sim
Obrigatoriedade de Nota Final:	Sim
Pode Criar Turma Sem Solicitação:	Não
Necessita de Orientador:	Não
Exige Horário:	Sim
Permite CH Compartilhada:	Não
Permite Múltiplas Aprovações:	Não
Quantidade de Avaliações:	1
Ementa/Descrição:	• Microscopia de Força Atômica:Caracterização da superfície de materiais via modo contato e modo dinâmico;Force Modulation Mode;Phase Mode;Magnetic Force Microscopy;Nanoindentação e esclerometria. • Tópicos Avançados sobre Microscopia Eletrônica de Varredura por Emissão de Campo:Imagem de alta resolução via elétrons secundários; Otimização de contraste de composição química via elétrons retroespalhados; ESB – Energy Selective Backscattering; AsB – Angular Selective Backscattering; Otimização da resolução espacial em análises via EDS; Compensação de carregamento em amostras não condutoras. • EBSD – Electron Backscattering Diffraction:Princípios de EBSD;Mapeamento de orientações cristalográficas;Identificação de fases e microconstituintes;Avaliação e mapeamento de encruamento em metais; TKD – Transmission Kikushi Diffraction.
Referências:

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